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2013
GB/T2423.8-1995电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ed:自由跌落
GB/T2423.7-1995电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ec和导则；倾跌与翻倒
GB/T2423.6-1995电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验Eb和导则：碰撞
GB/T2423.5-1995代替GB/T2423.5-81 GB/T2424.3-81电工电子产品环境试验第2部分；试验方法试验Ea和导则：冲击
GB/T2423.4-2008代替GB/T2423.4-1993电工电子产品环境试验第2部分；试验方法试验Db：交变湿热
GB/T2423.3-2006电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab；恒定温热试验
GB/T2423.2-2008代替GB/T2423.2-2001电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验B；高温
GB/T2423.1-2008代替GB/T2423.1-2001电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验A；低温
GB/T2423.36-2005电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法试验Z/BFc：散热和非散热试验样品的高温/振动（正弦）综合试验
GB/T2423.35-2005电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AFc；散热和非散热试验样品的低温/振动（正弦）综合试验
GB/T2423.20-81电工电子产品基本环境试验规程试验Kd:接触点和连接件的硫化氢试验方法
GB/T2423.53-2005电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验Xb；由手的摩擦造成标记和印刷文字的磨损
GB2423.19-81电工电子产品基本环境试验规程试验Kc：接触点和连接件的二氧化硫试验方法
讨论两种常见的、不同类型、测试条件一致的氙灯试验箱
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